| 負責人 | - |
| 統一編號 | 40747519 |
| 電話 | - |
| 網址 | - |
| 地址 | - |
| 稅籍狀態 | 營業中 |
| 行業別 | - |
| 稅藉登記 | 麵店、小吃店(561113) |
| 商工狀態 | - |
| 核准設立日期 | - |
| 最後核准變更日期 | - |
| 登記機關 | - |
| 股市 | - |
| 已發行股份總數 | - |
| 員工人數 | - |
| 資本總額（元） | 3,000 |
| 實收資本額（元） | - |
該公司資本額為 3,000 元，屬於，全國同產業的公司有 315,364 家，其資本額超越全國 1.39% 的同產業公司。
該公司資本額為 3,000 元，屬於，同縣市（）同產業的公司有 73,115 家，其資本額超越同縣市 3.68% 的同產業公司。
該公司成立 - 年，屬於，全國同產業的公司有 242,145 家，其成立時間早於全國 100.00% 的同產業公司。
該公司成立 - 年，屬於，同縣市（）同產業的公司有 202 家，其成立時間早於同縣市 100.50% 的同產業公司。
| 序號 | 公司名稱 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | 薛名凱 | - |
| 序號 | 職稱|負責人姓名|持股 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | - |
| 序號 | 負責人姓名 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | - | - |
| 序號 | 實收資本額|資本額 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | 實收資本額|- 資本額|3,000 | - |
| 序號 | 負責人姓名 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | - |
| 序號 | 經理人姓名|到職日期 | 變更日期 |
|---|---|---|
| 1 | -|- | - |
| 序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 用於半導體表面結構形貌的檢測系統、補償方法及電腦可讀取媒體 | 發明 | I859011 | G06V10/82 G06V10/77 G06V20/64 H01L21/67 | - | 2027-10-10 | 有效 |
| 2 | 自動化調整電子設備的方法 | 發明 | I753554 | G06F30/27 G06F17/18 | - | 2025-01-20 | 失效 |
| 3 | 影像檢測方法 | 發明 | I689869 | G06K9/46 G06K9/58 G06K9/36 | - | 2023-03-31 | 失效 |
| 4 | 濾心潤洗裝置 | 新型 | M572784 | B01D29/60 B01D33/067 | - | 2021-01-10 | 失效 |
| 5 | 光學檢測機 | 發明 | I567382 | G01N21/88 H02S50/15 | - | 2020-01-20 | 失效 |
| 6 | 表面花紋之檢測方法 | 發明 | I489420 | G06T7/40 G06K9/46 | - | 2021-06-20 | 失效 |
| 7 | 太陽能電池微裂檢測機台及其檢測方法 | 發明 | I462206 | H01L21/66 | - | 2017-11-20 | 失效 |
| 8 | 太陽能晶圓快速檢測系統 | 發明 | I407091 | G01N21/63 G01N21/88 | - | 2014-08-31 | 失效 |
| 序號 | 管轄法院 | 案由 | 判決類型 | 判決日期 | 判決字號 | 判決全文 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 臺灣臺北地方法院 | 除權判決（股票） | 民事判決 | 2024-04-23 | 113,除,555 | TPDV,113,除,555,20240423,1 |
| 2 | 臺灣士林地方法院 | 協商認可事件 | 民事判決 | 2017-07-26 | 106,司消債核,1070 | SLDV,106,司消債核,1070,20170726,1 |
| 3 | 臺灣臺南地方法院 | 給付借款 | 民事判決 | 2012-09-13 | 101,司促,28176 | TNDV,101,司促,28176,20120913,1 |
