| 序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 抗熔絲修補電路 | 發明 | I246598 | G01R31/02 H01H85/30 | - | 2013-12-31 | 失效 |
| 2 | 一種快閃記憶體單元的程式化方法 | 發明 | 205556 | G11C16/02 | - | 2013-06-20 | 失效 |
| 3 | 快閃記憶體裝置中產生偏壓準位的電路 | 發明 | 205555 | G11C16/06 | - | 2017-06-20 | 失效 |
| 4 | 快閃記憶體細胞單元之製造方法 | 發明 | 186307 | H01L27/115 | - | 2013-09-10 | 失效 |
| 5 | 一種抹除快閃記憶體之方法 | 發明 | 167628 | G11C11/34 | - | 2020-11-20 | 失效 |
| 6 | 一種於半導體元件中形成銅線的方法 | 發明 | 164235 | H01L21/768 | - | 2013-09-20 | 失效 |
| 7 | 半導體元件之製造方法 | 發明 | 158520 | H01L23/522 | - | 2011-06-30 | 失效 |
| 8 | 一種半導體裝置中形成銅線的方法 | 發明 | 156610 | H01L21/205 | - | 2013-05-31 | 失效 |
| 9 | 一種半導體裝置之接觸孔的形成方法 | 發明 | 157781 | H01L21/768 | - | 2010-05-31 | 失效 |
| 10 | 一種快閃記憶體之製程 | 發明 | 156161 | H01L21/8246 | - | 2013-05-20 | 失效 |
