序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
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1 | 晶片外觀檢測裝置及其方法 | 發明 | I621192 | H01L21/66 H01L21/67 | - | 2021-04-10 | 失效 |
2 | 測試裝置 | 新型 | M500894 | G01R31/00 | - | 2020-05-10 | 失效 |
3 | 光學感測元件攝取多區域影像方法 | 發明 | I465170 | H05K3/36 | - | 2019-12-10 | 失效 |
序號 | 商標圖樣 | 圖樣文字 | 商標權人 | 註冊編號 | 申請案號 | 有效期限 |
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1 | ![]() | OPTIVIZ 及圖 | 詳維科技股份有限公司 | 01506186 | 100036173 | 2032/02/15 |
2 | ![]() | 詳維 | 詳維科技股份有限公司 | 01506187 | 100036178 | 2032/02/15 |
序號 | 年度 | 總進口額 | 總出口額 |
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1 | 2025 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
2 | 2024 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
3 | 2023 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
4 | 2022 | 0-0.5 百萬美元 | 2-3 百萬美元 |
5 | 2021 | 0-0.5 百萬美元 | 5-6 百萬美元 |
6 | 2020 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
7 | 2019 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
8 | 2018 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
9 | 2017 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
10 | 2016 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |