更新時間：2025-08-23
台灣福雷電子股份有限公司
ASE TEST, INC.
稅籍狀態
營業中
股票代碼
-
所在地
高雄市楠梓區
成立年份
1987-12-14
同地址公司
關聯企業
-
標案黑名單
-
訴訟記錄
專利證書
共 28 筆資料
資料來源：經濟部智慧財產局
| 序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 取放工具、具有其之測試系統及測試方法 | 發明 | I843378 | B25J15/06 B25J19/04 B65G49/07 | - | 2025-05-20 | 失效 |
| 2 | 測試電子組件之裝置 | 發明 | I842733 | G01R31/3183 | - | 2025-05-20 | 失效 |
| 3 | 測試裝置、測試系統及測試方法 | 發明 | I838254 | G01R31/28 G01R29/08 G01R1/24 G01R1/04 | - | 2025-03-31 | 失效 |
| 4 | 測試設備 | 發明 | I808976 | H04L43/00 | - | 2024-07-20 | 失效 |
| 5 | 測試裝置、測試系統及測試方法 | 發明 | I805604 | G01R31/28 G01R1/24 | - | 2024-06-20 | 失效 |
| 6 | 量測系統及量測方法 | 發明 | I789811 | G01R1/067 G01R1/30 G06N99/00 | - | 2024-01-10 | 失效 |
| 7 | 用於測試具有天線元件之半導體封裝結構的測試治具、測試系統及其測試方法 | 發明 | I777616 | G01R1/04 B65G49/07 G01R29/10 | - | 2023-09-10 | 失效 |
| 8 | 用於光學量測之系統及方法 | 發明 | I776322 | G01N21/27 G01N21/01 | - | 2023-08-31 | 失效 |
| 9 | 天線測試模組及其操作方法 | 發明 | I759631 | G01R29/14 | - | 2023-03-31 | 失效 |
| 10 | 測試裝置、測試系統及測試方法 | 發明 | I743416 | G01R1/04 G01R29/10 G01R31/28 | - | 2022-10-20 | 失效 |
進出口額貿易額
共 12 筆資料
資料來源：經濟部國際貿易局
| 序號 | 年度 | 總進口額 | 總出口額 |
|---|---|---|---|
| 1 | 2025 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 2 | 2024 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 3 | 2023 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 4 | 2022 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 5 | 2021 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 6 | 2020 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 7 | 2019 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 8 | 2018 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 9 | 2017 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 10 | 2016 | 10 百萬美元(含)以上 | 10 百萬美元(含)以上 |
績優及獲獎
共 2 筆資料
資料來源：各大頒獎單位
| 序號 | 獎項名稱 | 獲獎時間 | 獲獎 | 頒獎單位 | 備註 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 金貿獎 | 2022 | 新興市場拓銷貢獻獎 | 經濟部 | - |
| 2 | 金貿獎 | 2013 | 重點新興市場貢獻? | 經濟部 | - |
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負責人：林群翔
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