序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
1 | 曝光方法及曝光裝置 | 發明 | I481971 | G03F9/02 G03F7/207 H01L21/677 H01L21/027 | - | 2021-04-20 | 失效 |
2 | 用於電氣元件的靜電吸引型檢測台 | 發明 | I472749 | G01N21/84 G01N21/89 B65G47/80 | - | 2021-02-10 | 失效 |
3 | 雷射加工方法及雷射加工裝置 | 發明 | I342250 | B23K26/08 | - | 2021-05-20 | 失效 |
4 | 液體材料供給裝置 | 發明 | I337900 | B05C5/02 | - | 2021-02-28 | 失效 |
5 | 用以檢查電子部件的系統 | 發明 | I293365 | G01N21/88 H05K13/08 G01R31/00 | - | 2017-02-10 | 失效 |
6 | 基板缺陷之整修裝置及方法 | 發明 | I271262 | B24B33/06 B24B49/04 | - | 2021-01-20 | 失效 |