敖翔科技股份有限公司｜查公司

專利證書

共 10 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	智慧型的缺陷校正系統與其實施方法	發明	I692700	G06F17/50 G06T7/49 G01R31/303	-	2021-04-30	失效
2	半導體廠缺陷作業系統及裝置	發明	I671838	H01L21/66 G01N21/956	-	2020-09-10	失效
3	設計佈局為主的快速線上缺陷診斷、分類及取樣方法及系統	發明	I641961	G06F17/50 G06F17/30	-	2020-11-20	失效
4	設計佈局的失效風險的智慧型預診斷系統及方法	發明	I641960	G06F17/50	-	2020-11-20	失效
5	智慧型缺陷分類採樣方法、系統與電腦可讀取儲存媒體	發明	I564741	G06F17/50	-	2020-12-31	失效
6	智慧型弱點圖形診斷方法、系統與電腦可讀取記憶媒體	發明	I534646	G06F17/50	-	2020-05-20	失效
7	智慧型缺陷診斷方法	發明	I498853	G06T7/00	-	2020-08-31	失效
8	缺陷分類法則建立方法、缺陷分類方法與基於該缺陷分類法則與關鍵區域分析的致命缺陷判斷方法	發明	I480967	H01L21/66 G01R31/26	-	2021-04-10	失效
9	智慧型缺陷良率總覽界面系統與方法	發明	I467400	G06F17/30 G06F17/40 H01L21/02 H01L21/66	-	2020-12-31	失效
10	智慧型缺陷篩選及取樣方法	發明	I402928	H01L21/66 G06K9/78	-	2020-07-20	失效

商標認證

共 2 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	商標圖樣	圖樣文字	商標權人	註冊編號	申請案號	有效期限
1		ESI OpenShort	敖翔科技股份有限公司	01959610	107012056	2028/12/15
2		ESI OpenShort	敖翔科技股份有限公司	01905253	106042391	2028/03/31

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共 1 筆資料

資料來源：各大網路新聞

序號	新聞	新聞來源	新聞日期
1	如何強化5奈米晶圓良率從缺陷分析下手新聞情緒：偏中立新聞作者：林仁鈞	DIGITIMES	2019-04-08

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