吳光辰｜查公司

專利證書

共 3 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	包括偵測器之儲存盒、包括偵測器之晶圓儲存盒、減少半導體晶圓上金屬層腐蝕的方法及偵測晶圓儲存盒中預先存在化學元素之方法	發明	I316280	H01L21/677	-	2018-10-20	失效
2	形成間隙壁於可抹除可程式唯讀記憶體元件之方法	發明	176624	H01L27/115	-	2016-04-10	失效
3	控制晶圓表面極性以降低微粒污染的方法	發明	150920	H01L21/302	-	2021-01-20	失效

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