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專利證書

共 1 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	適用於積體電路測試之高頻探針組	發明	I314651	G01R1/073 G01R31/28	-	2018-09-10	失效

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