| 序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 用於取放鑽針的倉儲系統及其方法 | 發明 | I863782 | G06Q10/08 B65G1/16 | - | 2025-11-20 | 有效 |
| 2 | 印刷電路板阻抗檢測裝置 | 發明 | I815345 | G01R27/02 G01R31/28 | - | 2024-09-10 | 失效 |
| 3 | 玻璃基板檢測方法 | 發明 | I759724 | G01R31/28 | - | 2023-03-31 | 失效 |
| 4 | 供應物件的升降裝置 | 新型 | M621137 | H01L21/677 H01L21/67 | - | 2022-12-10 | 失效 |
| 5 | 耦合電容異常檢測裝置及其檢測方法 | 發明 | I749941 | G01R31/306 | - | 2022-12-10 | 失效 |
| 6 | 玻璃基板檢測設備及其方法 | 發明 | I730591 | G01R31/50 G01R19/10 G02F1/133 | - | 2022-06-10 | 失效 |
| 7 | 電容測試系統及可調式微短壓降產生裝置 | 發明 | I724955 | G01R27/26 | - | 2022-04-10 | 失效 |
| 8 | 玻璃基板檢測設備及其方法 | 發明 | I724749 | G01R31/304 | - | 2022-04-10 | 失效 |
| 9 | 薄膜電晶體面板缺陷之檢測方法及其裝置 | 發明 | I661189 | G01N21/88 G02F1/1368 | - | 2021-05-31 | 失效 |
| 10 | 檢測薄膜電晶體基板之方法及裝置 | 發明 | I634339 | G01R31/265 G01R31/28 | - | 2020-08-31 | 失效 |
| 序號 | 商標圖樣 | 圖樣文字 | 商標權人 | 註冊編號 | 申請案號 | 有效期限 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 |  | RACUS | 興城科技股份有限公司 | 01360354 | 097021545 | 2029/04/30 |
| 序號 | 年度 | 總進口額 | 總出口額 |
|---|---|---|---|
| 1 | 2025 | 0-0.5 百萬美元 | 0-0.5 百萬美元 |
| 2 | 2024 | 0-0.5 百萬美元 | 0-0.5 百萬美元 |
| 3 | 2023 | 0-0.5 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
| 4 | 2022 | 0-0.5 百萬美元 | 0-0.5 百萬美元 |
| 5 | 2021 | 0.5-1 百萬美元 | 5-6 百萬美元 |
| 6 | 2020 | 1-2 百萬美元 | 4-5 百萬美元 |
| 7 | 2019 | 3-4 百萬美元 | 10 百萬美元(含)以上 |
| 8 | 2018 | 2-3 百萬美元 | 0.5-1 百萬美元 |
| 9 | 2017 | 1-2 百萬美元 | 1-2 百萬美元 |
| 10 | 2016 | 3-4 百萬美元 | 9-10 百萬美元 |
| 序號 | 新聞 | 新聞來源 | 新聞日期 |
|---|---|---|---|
| 1 | 新聞情緒：偏中立 新聞作者：拆組達人 | 字媒體 | 2019-04-12 |
