薛名凱｜查公司

專利證書

共 8 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	用於半導體表面結構形貌的檢測系統、補償方法及電腦可讀取媒體	發明	I859011	G06V10/82 G06V10/77 G06V20/64 H01L21/67	-	2027-10-10	有效
2	自動化調整電子設備的方法	發明	I753554	G06F30/27 G06F17/18	-	2025-01-20	失效
3	影像檢測方法	發明	I689869	G06K9/46 G06K9/58 G06K9/36	-	2023-03-31	失效
4	濾心潤洗裝置	新型	M572784	B01D29/60 B01D33/067	-	2021-01-10	失效
5	光學檢測機	發明	I567382	G01N21/88 H02S50/15	-	2020-01-20	失效
6	表面花紋之檢測方法	發明	I489420	G06T7/40 G06K9/46	-	2021-06-20	失效
7	太陽能電池微裂檢測機台及其檢測方法	發明	I462206	H01L21/66	-	2017-11-20	失效
8	太陽能晶圓快速檢測系統	發明	I407091	G01N21/63 G01N21/88	-	2014-08-31	失效

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