光千精密股份有限公司｜查公司

專利證書

共 1 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	紅外線焦平面陣列模組的性能參數量測方法及壞點偵測方法	發明	I600324	H04N5/33 H04N5/357 H04N5/367 H04N17/00	-	2021-09-20	失效

相似公司

新銳都開發股份有限公司

負責人：魏韶軍

聿光科技有限公司

負責人：陳家進

信益行銷股份有限公司

負責人：余志文

一心屠宰場有限公司

負責人：林聰文

六寶電器股份有限公司

負責人：許偉洋

怡科企業有限公司

負責人：-

驊冠國際貿易有限公司

負責人：龔若羚

聚煜股份有限公司

負責人：-

清雲紙業有限公司

負責人：邱秀真

丰虹科技股份有限公司

負責人：張秀綺

Copyright © 2025 Bunnycha. All rights reserved.