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專利證書

共 2 筆資料

資料來源：經濟部智慧財產局

序號	專利名稱	類別	公告號	IPC	LOC	有效期限	效期狀態
1	製程瑕疵分析方法與裝置	發明	106412	G01R31/28	-	2004-08-10	失效
2	二極體並聯瑕疵分析方法與裝置	發明	093215	G01R31/02	-	2003-02-28	失效

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