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| 序號 | 專利名稱 | 類別 | 公告號 | IPC | LOC | 有效期限 | 效期狀態 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 面板測試結構 | 新型 | M333567 | G01R31/02 | - | 2009-05-31 | 失效 |
| 2 | 測試用之薄膜探針 | 新型 | M273726 | G01R31/26 G01R1/067 | - | 2009-08-20 | 失效 |
| 3 | 外露型薄膜探針 | 新型 | M270356 | G01R1/06 | - | 2009-07-10 | 失效 |
| 4 | 測試中介片 | 新型 | M252020 | G01R31/02 | - | 2008-11-30 | 失效 |
| 5 | 微機電撓性橋型探針 | 新型 | 224170 | G01R1/06 | - | 2009-05-10 | 失效 |
| 6 | 微井承載基材 | 新型 | 217891 | B81B1/00 | - | 2008-12-31 | 失效 |
| 7 | 顯示面板之測試薄膜探針 | 新型 | 219418 | G01R1/06 | - | 2008-12-10 | 失效 |
| 8 | 積體電路裝置之薄膜探針測試座 | 新型 | 202940 | G01R31/28 | - | 2008-03-31 | 失效 |
| 9 | 球點測試基座 | 新型 | - | H01L21/66 | - | - | 無效期資料 |
| 10 | 晶圓級封裝之薄膜探針測試界面 | 新型 | 190431 | H01L21/66 | - | 2003-05-10 | 失效 |
| 序號 | 年度 | 總進口額 | 總出口額 |
|---|---|---|---|
| 1 | 2025 | 0 | 0 |
| 2 | 2024 | 0 | 0 |
| 3 | 2023 | 0 | 0 |
| 4 | 2022 | 0 | 0 |
| 5 | 2021 | 0 | 0 |
| 6 | 2020 | 0 | 0 |
| 7 | 2019 | 0 | 0 |
| 8 | 2018 | 0 | 0 |
| 9 | 2017 | 0 | 0 |
| 10 | 2016 | 0 | 0 |